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AS5247
AS5247是双芯片在轴磁角度传感器,将两套角度测量通道放入同一封装,为需要通道比较的系统提供基础。
核心参数
| 参数 | 数值与适用条件 |
|---|---|
| 测量结构 | 同一封装内双 die、双角度通道 |
| 绝对角度分辨率 | 14 位 |
| 安装方式 | 在轴磁体 |
| 系统用途 | 双路位置读取与通道比较 |
| 理想数字码距 | 按14位全圈换算:360°/2^14 ≈ 0.02197266°;计算值,不是准确度保证 |
| 5V工作供电 | 4.5~5.5 V |
| 3.3V常规模式 | 3.0~3.6 V,−40~125°C;扩展150°C需按手册设置对应位及电压条件 |
| 工作磁场 | 35~70 mT,芯片表面规定测量几何;低于35mT噪声性能下降 |
| ABI分辨率 | 512脉冲/圈=2048步/圈;可选256脉冲/圈=1024步/圈 |
| UVW | 1~7对极可编程 |
| 供电电流上限 | 每die 15 mA;双die合计应乘2 |
| 噪声上限 | NOISESET=0:0.068° RMS;NOISESET=1:0.082° RMS,均为原表Max列,按手册磁场条件 |
| INL(最佳安装,25°C) | 最大±0.9° |
| 封装 | TSSOP-28,双die |
参数来源:本页所列原厂产品资料与手册。
资料定位:AS5247 v1-10(2016-12-05)正文第1、7~8页,供电扩展温度条件不得省略。
工作方式与型号定位
AS5247将两套角度测量通道放入同一封装,为双路位置读取和一致性检查提供器件基础。它的价值在于系统可以比较通道,而不只是把输出位数相加。
安装、接口与配置
两通道共用被测磁体时,磁体松动、安装整体偏移及外部磁场属于需要检查的共因问题。两路角度一致只能说明通道相互接近,不能单独证明它们都与机械真值一致。
校准与选型验证
接入需分别核对两路供电、接口、零点和数据时间。验收应包含通道差随温度和转速的变化以及故障处理;若用于安全架构,还需结合原厂安全文档,不能仅凭双die结构宣布整机满足功能安全。
官方资料
