校准和验收都拿匀速当真值，会发生什么？

校准让曲线更接近直线，验收也检查曲线是否接近直线。如果真实轴速本来不均匀，这两步就会共享同一个错误假设。

以圈数u表示角度。构造一条真实运动：

假设被测传感器完美，直接输出 $u(t)$。校准程序却把理想匀速 $r(t)=vt$ 当参考，将二者之差认成传感器误差，并建立一张把这次输出映射到 $r(t)$ 的补偿表。

这只是合成模型，不对应任何具体芯片实现。它说明一个问题：错误的参考能把正确读数“校正”成错误读数。

换一把尺，结果就不同

若验收继续拿同一条 $r(t)$ 作标准，补偿后的残差能接近零。若改用真实角度 $u(t)$，补偿反而引入最大0.001圈，也就是0.36°误差。

仅把建表记录和复测记录分成两个文件，不能消除这种共同假设。它们使用相同的运动模型、参考系统或固定偏差时，仍会共享系统误差。JCGM VIM 2012的校准与验证定义区分了建立测量关系和证明满足规定要求，两项工作不能只用一个“完成”替代。

外部参考也需要验收

比较被测角度 $u_m$ 与参考角度 $u_r$，差值含有两边误差及采样不同步。对互不相关的标准不确定度，才能写成：

存在相关性时要保留协方差；这是NIST不确定度传播的直接要求。参考轴更高位数，不等于参考误差可以忽略；同轴安装、偏心和时间对齐也会进入差值。

合成设两边独立标准不确定度均为0.0001圈，差值为约0.000141圈，即0.0509°。只观察这份差值，不能把全部波动归给被测件；也不能在未知相关性时靠相减方差“精确分离”。

实际执行时，先写清校准使用的参考与运动假设，再给验证选择能够检验这些假设的角度参考或动作。保留原参数，使用独立记录检查不同速度、温度或重装后的结果；这些条件变化是检验手段，不自动构成独立真值。

最后分别报告参考的不确定度、被测残差和通过判据。若参考能力与目标误差同量级，结论应缩小到“在该比较系统下观察到的差值”，不能据一张漂亮直线宣称传感器达到了更小误差。